输入资料
- STDF / CSV / Wafer Map / Log
- 测试、设备、生产与产品数据
- 历史异常与工程知识
AI Test Data & Knowledge Hub
STDF、CSV、Wafer Map 和 Log 持续产生,测试、设备、生产与产品数据分散;异常、良率和设备判断依赖专家经验。
按具体业务任务组织输入、执行与可复核的输出。
从业务资料到可审阅结果,每一环都有清晰职责。
重点 PoC 闭环
项目验证指标。“异常分析提升”的统计含义、任务范围、样本与审核口径以项目记录为准。
AI 辅助知识和数据工作,专业人员复核设计、分析与研发结论。
先确认任务、资料版本和授权范围,保留依据、异常处理与结果审核。